
CERVO FPGA PALTEKシリーズ動画推奨モデル
「CERVO FPGA PALTEK シリーズ」
XILINX アクセラレータ・カードFPGA推奨機
DEEPSは、複数AIの活用により人の眼で検査している不良項目をすべて検出。
検査を重ねるごとに不良情報がビッグデータとして蓄積され、不良発生の傾向から発生原因を追究することができるプラットフォームです。
従来の外観検査では、様々な人がバラバラな判断で実施され、外観検査の標準化に向き合うことが困難でした。DEEPSは、複数AIにより通常、汚れなどで不良と見なしてしまうような不良項目も正常品と認識。不良を深く、直感的に理解することで、検出精度が高い外観検査を生み出すことができます。
DEEPSは、ルールベース、その他Aへ製 型図での検査において異常と汚れ等が区別出来なかった事象に対して、検出病感を素早く向上させる機能が充実しています。
貴社での外観検査をより精度高くするものにするために、検查における自動化にとどまらず、なぜ不良が発生するのかを分析することで本質改善へと繋ぐことができます。
DEEPSは複数AI活用により、今まで検出が難しかった不良を高い検出率により、人間の眼以上の品質を保つことが可能です。汚れと不良の区別なども可能です。
DEEPSはノーコードで、製品画像の正常異常を10枚学習させることにより、誰でも簡単に扱えることがで きます。直感的な操作で学習・更新し、即時データ追加することができます。
DEEPSでは、製品の中の何が正常で、どこにどういった不良が発生するかを、全て価値のある情報としてデータ蓄積します。検査回数を重ねれば重ねるほど、ビッグデータとしてたまり、不良発生の傾向から生産工程の改善に直接寄与します。
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